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蛍光X線膜厚計
X-Strata920SDD

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X-Strata920SDD
半導体検出器搭載により、フラッシュ金(Au)めっきの膜厚測定や無電解ニッケル(Ni)めっきのリン(P)
濃度測定等、比例計数管モデルでは測定の難しいアプリケーションに対応可能です。
また、複数種類あるステージやコリメータからの選択により、最適な装置構成を実現できます。

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